全志科技申請 SOC 芯片測試相關專利，提升芯片測試效率

金融界 2024 年 8 月 4 日消息，天眼查知識產權信息顯示，珠海全志科技股份有限公司申請一項名爲“SOC 芯片測試方法、裝置、設備、存儲介質“，公開號 CN202410476872.9，申請日期爲 2024 年 4 月。

專利摘要顯示，本申請公開了一種 SOC 芯片測試方法、裝置、設備、存儲介質，方法包括：待測 SOC 芯片發送 boot 成功指令至 ATE 測試機，ATE 測試機將測試命令發給待測 SOC 芯片；當第一 CPU 內核接收到測試命令，爲各個第二 CPU 內核分配目標資源；第一 CPU 內核啓動各個第二 CPU 內核，並控制各個第二 CPU 內核基於目標資源進行測試，得到子測試結果；第一 CPU 內核檢測各個第二 CPU 內核的測試狀態信息，獲取各個子測試結果，將測試狀態信息和測試結果發給 ATE 測試機；ATE 測試機基於子測試結果生成目標芯片測試結果。本申請能夠實現待測 SOC 芯片多核同時工作，同一時間並行測試不同的測試項，相比單核測試的方案，提升芯片測試效率。

本文源自：金融界

作者：情報員