上海貝嶺申請車規芯片專利,降低車規芯片的測試難度和測試成本
金融界 2024 年 7 月 5 日消息,天眼查知識產權信息顯示,上海貝嶺股份有限公司申請一項名爲“車規芯片”,公開號 CN202410397877.2,申請日期爲 2024 年 4 月。
專利摘要顯示,本公開通過在車規芯片中增加測試電路,通過測試電路在測試電路輸入端的電壓值大於等於預設電壓值時,使車規芯片進入測試模式;通過移位寄存器輸出測試信號,以根據測試信號測試車規芯片中的至少一個模塊的工作狀態,既保留了原有的電路的功能以及指標要求,又可以對車規芯片進行測試,降低了車規芯片的測試難度和測試成本。
本文源自:金融界
作者:情報員
相關資訊
- ▣ 盛科通信-U申請芯片測試系統及方法專利,提高芯片測試效率,且成本低
- ▣ 全志科技申請 SOC 芯片測試相關專利,提升芯片測試效率
- ▣ 龍芯中科申請芯片、芯片測試方法、電子設備以及存儲介質專利,大大減少測試成本
- ▣ 廣汽本田申請車輛線束搖動測試專利,降低測試的耗時和成本
- ▣ 北京智芯微申請安全芯片的算法測試專利,解決現有安全芯片算法測試問題
- ▣ 長城汽車申請車載設備測試專利,降低車載設備測試成本
- ▣ 上海壁仞科技申請芯片啓動相關專利,降低芯片面積和硬件成本
- ▣ 博測達申請高精度時頻信號測試裝置和方法專利,測試成本低
- ▣ 龍迅股份取得一種芯片測試方法及系統專利,提高芯片測試效率。
- ▣ 芯片測試中的Trim(微調)
- ▣ 華虹半導體(無錫)申請晶圓測試缺陷芯片標記專利,提升芯片缺陷標記效率
- ▣ 華爲申請聚合芯片控制專利,降低聚合芯片功耗
- ▣ 杭州傲芯科技申請用於芯片DFT的高可靠性測試向量讀取電路及方法專利,提高了測試向量的穩定性
- ▣ 和林微納:半導體芯片測試探針主要應用於全球中高端芯片測試
- ▣ 普冉股份取得芯片測試相關專利,便於測試工程師及時發現芯片疊料或卡料
- ▣ 南京芯視元取得芯片光學特性測試設備專利,設備批量測試效率高
- ▣ 臺積電申請集成芯片和用於形成集成芯片的方法專利,提高集成芯片的性能
- ▣ 安路信息申請基於FPGA的全芯片位流仿真專利,提高仿真測試效率
- ▣ 復旦微電申請晶圓芯片多路並測裝置及方法專利,可以快速高效地排除各處異常測試通路的晶圓芯片
- ▣ 中移物聯網申請測試測試套件的方法專利,提高測試效率和準確度
- ▣ 利揚芯片獲得發明專利授權:“一種紅外接收芯片測試修調系統”
- ▣ 寧德時代申請電芯極片對齊度檢測系統及方法專利,提高了電芯極片對齊度檢測的可靠性
- ▣ 賽力斯申請座艙測試方法專利,降低測試時產生錯誤的概率
- ▣ 南昌源宇取得汽車 NVH 性能綜合測試平臺專利,降低電能消耗和測試成本
- ▣ 電科蓉芯取得基於FPGA的以太網PHY芯片功能測試系統專利
- ▣ 上海聚躍檢測技術申請芯片頂層重佈線層去除方法專利,通過物理去除方式規避影響後續試驗分析的問題
- ▣ 大衆汽車申請用於車載芯片的性能評估專利,提高對車載芯片的性能評估準確度
- ▣ 長安科技申請車載芯片的遠程調試專利,解決現有調試過程的侷限性問題
- ▣ 中安芯界取得鋰電池芯片測試用模擬充電系統專利