臺灣國際半導體展 愛德萬測試將重點展示最新半導體測試解決方案

臺灣愛德萬測試董事長暨總經理吳萬錕。圖/本報系資料照片

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation)宣佈將於下週在臺灣臺北舉行的 TaiNEX 1&2 展會上展示其最新的先進 IC 測試解決方案。 愛德萬測試將重點展示其廣泛的領先應用測試解決方案組合，包括人工智慧和高效能運算 (HPC)、5G、汽車和高階記憶體。

其中，愛德萬測試將在先進測試論壇 (Advanced Testing Forum) ，針對主題爲「生成式AI 如何推動3D IC 測試的需求」發表演講。

愛德萬測試臺灣區也將年底舉辦兩場大型研討會活動，主題分別爲SoC測試論壇與記憶體測試論壇，將以Beyond the Technology Horizon爲題，展現其耕耘先進測試科技領域的卓越貢獻，包括先進記憶體、5G、人工智慧 (AI)、高效能運算 (HPC)。