《科技》愛德萬測試拔頭籌，推全新SSD測試解決方案
半導體測試設備廠愛德萬測試（Advantest）領先業界，運用已通過嚴謹測試的MPT3000平臺，發表針對PCIe Gen 4固態硬碟（SSD）的開發、除錯與量產全新整合式測試解決方案，將有助於SSD製造商加速新產品的上市時程。
愛德萬測試表示，MPT3000平臺系統已獲PCIe Gen 3、SATA與SAS SSD製造大廠採用，可能涵蓋PCIe Gen 4裝置的所有測試需求，包括進行工程測試、可靠性驗證測試（RDT）、生產測試，毋須耗時等待第三方PCIe Gen 4 SSD應用上市。
愛德萬測試指出，藉由提供客戶從設計到製造的完整測試流程，新解決方案能大幅簡化過渡到下一世代裝置的進程，且使用與愛德萬測試PCIe Gen 3解決方案相同的測試架構與軟體，爲SSD製造業者開拓風險最低、速度最快的產品上市途徑。
愛德萬測試系統級測試副總Colin Ritchie表示，爲因應各式各樣的SSD協定與規格，公司推出模組化MPT3000平臺，且在功能方面更上層樓，能協助客戶驗證和測試最新一代PCIe記憶體。
Colin Ritchie指出，MPT3000 PCIe Gen 4產品已經上市，並已開始出貨給客戶。本系統具備高度彈性，再加上tester-per-DUT架構和硬體加速特點，可成爲所有工程、量產和內建自我測試電路（BIST）應用最理想的單一系統解決方案。